用于气体检测的近红外半导体激光器温控系统论文_彭军

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摘要:目前,近红外半导体激光器在各行各业中,获得了十分广泛的应用。而激光器测量系统的性质与其输出波长密切相关,但输出波长却会随温度而漂移,而自身的运行也会产生一定的热量,所以,应严格控制温度变化。基于此,本主要探讨了用于气体检测的近红外半导体激光器温控系统。

关键词:气体检测;近红外半导体;激光器;温控系统

现阶段,随着科学技术的快速进步以及现代工业的不断发展,人们对气体检测也提出了更高的要求。而用于气体检测的近红外半导体激光器引起了人们的广泛关注,具有十分广泛的应用前景。而在气体检测便携式系统中,选用的温度控制系统十分关键。为此,下文进行有关研究。

1 分析温度控制系统

设计温度控制系统包括DFB激光器、电阻温度检测器、半导体温度制冷器、主控模块、温度设置模块、温度采集模块、误差提取电路、控制模块模拟PID、tec控制模块等。主控芯片处理器使用的是三十二位的浮点型信号块。通过数模转换器,将直流电压输出,并设置控制温度;通过桥式电路,把热敏电阻转换为电压,再通过模数转换器,对该电压进行检测,进而监测激光器的温变。结合在激光器中封装的热敏电阻值,通过温度采集电路,将电压信号输出,并将这一电压信号输到温度检测电路,用于处理器对激光器温度值进行实时监测,同时将其输入显示单元。将误差提取电路输入另一路,从而将温度误差信号提取。

然后,在比例放大、积分和微分等电路,输入的同时处理温度误差的信号,然后再将处理比例放大、积分和微分信号,将其送入TEC控制的芯片中去。基于DSP控制,利用TEC控制芯片调整通过TEC的电流方向及大小,对其实行加热或制冷,将激光器的作业温度控制好。

2 设计系统中的重要模块

2.1 设计温度采集和误差输出电路

利用热敏电阻信号RTD和R1~R3形成桥路,并通过仪表放大器实现温度信号向电压信号的转变。然后,将一路电压信号送入ADC,用于检测激光器的作业温度,并及时处理过温或欠温等;将另一路信号向误差提取电路送入,电路核心为增益差动放大器,它的共模抑制比较高、温漂系数低。

RTD和由仪表放大器变换而得的电压之间的关系如下:

如图1可知,若激光器为10℃,则RTD和VTsig分别为20.31K和4.489V;若激光器为4℃,则RTD和VTsig 分别为5.298K和0.1428V,与设计温度一致。因为AD8276中集成了温度特征接近的电阻,所以不必通过电路外置以配置减法电路,按下式计算电压的误差值

图1 热敏电阻值与作业温度的关系图

2.2 模拟设计PID电路

在模拟PID电路中,将0.8V硅二极管作为D1、D2的前向导通电压,它和R2实现对比例V1的钳位。在D3中背靠背内置一对二极管,且前向导通电压是0.39V上下。因为二极管电流电压的增长呈e指数关系,所以微弱的两端电压变化则会致使流过的电流发生急剧变化,当电流超过输入电流后,将烧毁输入级,威胁芯片功能,因而应通过串联电阻R4加以限制,从而限制积分器输出V2在±0.4V。D4、D5是0.3V导通电压的锗二极管,它和R6对微分电压V3实行钳位。P、I、D的输出电压分别为:

通过临界比例法,整定电路参量。调节电路的步骤如下:①激光器环境温度选为10℃;②仅控制比例环节,并调节比例系数,一直到误差信号开始反复震荡;③增加积分环节,并调节积分系数,一直到误差信号值变得最小;④增加微分环节,以减小误差。设置环境温度为50℃,重复以上步骤,将两者的最值作为比例系数,二者均值为微分系数及积分系数。认真进行调节,一直到微分系数和积分系数与要求一致。

2.3 设计TEC(半导体制冷器)驱动电路

采用珀尔帖效应研制TEC的材料。当两种半导体的回路通过直流电时,它们接触面会按电流流向分别释放或吸收热能。文中通过TEC控制芯片恒温控制DFB激光器。其中内置基准电压源1.5V,如果外加电压比基准电压高,TEC中电流流向为正,并加热激光器;如果外加电压比基准电压低,则TEC中电流流向为反,并制冷激光器。效果由电流值和珀耳帖系数决定。

图2 DFB稳定性测试图

3 分析实验和结果

3.1 测试装置

系统集成软件和硬件以后,研制出温度控制器。通过该系统,对某中科院研究所研发的DFB激光器(中心波长为1.862μm且用于检测水汽)予以温控实验。在实验中,首先,通过光谱仪将激光器输出光谱测出,然后,通过DSP将实时获得的温度信息传入PC机,并以此测出激光器的作业温度。

3.2 温控实验

在本次试验中,将激光器温度设置为20℃,且环境初始温度为25℃。刚好在零时刻,控温过程启动,并实时测出激光器工作温度。制作成图后发现,激光器温度完全可以达到理论设定值,且温变范围为-0.05至+0.05℃。同时,从开始启动控温一直到最终达到温度稳定状态,约耗时1min。

3.3 测试光谱仪器

将激光器驱动电流固定为50mA,通过温度控制器,让激光器在各种温度(20~30℃)条件下工作。与此同时,对激光器输出光谱进行测量。分析测量数据后可知,随着温度的不断增高,峰值输出波长也逐渐增大。当工作电流分别为60A和70mA时,观察到的实验现象也与其一致。

此外,把激光器的工作温度调整固定,并将电流逐步增加,同时,通过光谱仪器对激光器输出谱进行测量。分析数据后发现,基于不同温度,随着驱动电流的不断增加,峰值激射波长和作业电流的关系呈良好的线性。由此可见,研发的模拟温度控制器PID的性能较好。

图3 和商用控制器比较

3.4 稳定性

在检测气体时,为了将检测的可靠性和准确度提高,则应保证激光器发光的稳定性,这由其温度控制系统决定。通过所研制的这个系统,接连4天测量了相同激光器所输出的光谱,见图2,设定工作温度为24℃、驱动电流为60mA。由图可见,所测得的4条光谱线路重合相对较好,说明该种温度控制的系统稳定性能好。

3.5 与商用温控器比较

将本文研制的温控器与美国某公司制造的商用温控器进行比较:同时将二者激光器作业温度设定为24℃。分别在驱动电流为50mA及60mA的时候,检测具体的激光器发光谱,见图3。看见二者发光强度的差异不大,但完全重合了发光峰位。这也说明,这种温度控制器与商用仪器指标较一致。

4 结 语

综上所述,经过实验已经证明,文中设计的用于检测气体的近红外半导体激光器温控系统,控温精度高且效果稳定,是可以有效控制温度的一种智能控制系统,而且性能也具有可比拟,提供了一种有效解决温控问题的方案。该产品经现场使用X年,运行稳定、测量准确、可靠。

参考文献:

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论文作者:彭军

论文发表刊物:《基层建设》2018年第34期

论文发表时间:2019/1/15

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