湖南省长沙市第三医院 湖南长沙 410000
【摘 要】目的：探讨分析小儿高热惊阙的临床特点以及脑电图分析。方法：选取2013年11月~2014年11月在我院儿科就诊的45例高热惊阙患儿作为调查对象，分析高热惊阙患儿的临床特点和脑电图。结果：45例高热惊阙患儿，惊阙发生在24h以内者有40例（88.89%），明显高于24~48h者，发作形式最为常见的为全身性，共43名患儿占总比例的95.56%，体温38.9~39.5℃共39名患儿，占总比例的86.67%。45例高热惊阙患儿的脑电图结果，异常的患儿为21例（46.67），其中轻度异常为7例（15.56）、中度异常为5例（11.11）、重度异常为5例（11.11）、痫性放电为4例（8.89）。结论：造成小儿惊阙的原因主要为高热，高热惊阙的持续时间、发作次数以及类型均是影响脑电图异常的重要因素，脑电图是高热惊阙临床诊断、治疗以及评估预后的重要手段，切不可低估其价值，脑电图能准确判断病情、采取有效措施，对小儿的病情有着积极的作用。
【关键词】高热惊阙；脑电图；小儿；临床
高热惊阙是医院儿科常见的疾病之一，主要是因为患儿中枢神经系统以外的感染，造成体温超过了38℃，从而引起了脑细胞神经元的异常放电，一般是因为多种感染性疾病引起[1]。高热惊阙患儿的临床特点为两眼上翻、斜视、凝视、全身或局部肌肉抽搐以及意识丧失等。高热惊阙如果反复发作，对小儿的脑功能会产生一定的影响，使患儿出现癫痫、智力障碍等并发症，严重影响了患儿的大脑发育，极度不利于小儿的成长[2]。目前，临床上多采用脑电图进行配合诊断，本文通过选取在我院儿科就诊的45例高热惊阙患儿进行调查分析，探讨高热惊阙患儿的临床特点和脑电图，以供临床借鉴和参考。现将具体报告如下。
1资料与方法
1.1一般资料
选取2013年11月~2014年11月在我院儿科就诊的45例高热惊阙患儿作为调查对象，其中男34例，女11例，年龄在5个月~8岁，平均年龄为（3.67±0.65）岁，患儿的体温记录为37.9℃~41.2℃，发热原因主要为呼吸道或消化道的感染性疾病所致。45例患儿均排除心、肝、肾、肺等重要器官存在严重疾病，并符合《小儿神经系统疾病》中关于高热惊阙的相关诊断标准。
1.2方法
1.2.1医护人员对本次参加调查的患儿的发热情况、惊阙分类、临床症状、体征、检查结果以及治疗方法进行记录，并对所有数据进行统计学处理、分析。
1.2.2医护人员采用1018型数字脑电图仪（北京太阳公司生产）对患儿进行诊断，描记参数选择时间常数0.3sec、高频滤波30Hz，走纸速度3cm/s，头皮电极的放置参照国际10/20电极安放法[3]，患儿的左右两侧耳垂各自安放参考电极，医护人员采用单机导联和双极导联两种方式进行记录。医护人员令患儿采取卧床闭目或者坐姿，安静地配合记录工作，如果初次经脑电图检查并发现有异常的患儿，要对其建议定期进行复查。脑电图的具体诊断标准参考《临床脑电图》。
1.3统计学处理
在SPSS17.0统计学软件上进行处理。计数资料用频数（n）或率（%）表示，采用卡方检验，以P＜0.05具有统计学意义。
2结果
2.1 45例高热惊阙患儿，惊阙发生在24h以内者有40例（88.89%），明显高于24~48h者，发作形式最为常见的为全身性，共43名患儿占总比例的95.56%，体温38.9~39.5℃共39名患儿，占总比例的86.67%。具体数据见表1
3讨论
高热惊阙是医院儿科较为常见的急症之一，目前为止，该病的发病机制尚不明确，专家认为可能和小儿脑部发育不成熟、神经细胞网络和功能尚不完善，兴奋性神经介质和抑制性神经递质平衡不稳定，从而造成小儿的惊阙阈值比较低，所以发热时会促使异常放电造成惊阙[4]。同时，高热惊阙还和小儿的性别有一定的关系，临床数据显示男性患儿的发病率远远高于女性，比例甚至达到了2.1：1，，专家认为，主要原因是男性患儿的脑发育成熟程度较同龄女孩要较低。造成小儿惊阙的主要环境因素为发热，由于外界环境的温度改变或者因为各种疾病因素导致患儿体温的上升，均会造成高热惊阙现象发生。高热惊阙的发病率和遗传也是息息相关的，研究表明，遗传史是诱发高热惊阙的危险因素之一[5]。
本文通过选取在我院儿科就诊的45例高热惊阙患儿进行调查分析，惊阙发生在24h以内者有40例（88.89%），明显高于24~48h者，发作形式最为常见的为全身性，共43名患儿占总比例的95.56%，体温38.9~39.5℃共39名患儿，占总比例的86.67%。45例高热惊阙患儿的脑电图结果，异常的患儿为21例（46.67），其中轻度异常为7例（15.56）、中度异常为5例（11.11）、重度异常为5例（11.11）、痫性放电为4例（8.89）。根据分析结果可以看出，导致小儿发生惊阙的主要原因为高热，因此，为了预防小儿发生惊阙的几率，采取体温监测、降温等积极有效的方法是必不可少的。
有专家认为，小儿在发热时产生的全身抽搐症状，主要是由于小儿的脑发育不够完善，缺少髓磷脂，小儿脑细胞的渗透性和水含量和成人相比，均存在特别明显的差异，且小儿的抑制系统发展也不够成熟，对机体的保护力尤其缺乏，因此造成全身抽搐症状。本文选取的45例高热惊阙患儿通过脑电图诊断，其中21例患儿存在异常，经过医护人员的复查发现，部分患儿的脑电图依然存在异常状况，甚至持续数日之上。据推测，发生此类现象的原因为小儿在发生惊阙时，脑部造成了暂时的缺血、缺氧，同时加上发热，导致了患儿的脑功能出现紊乱现象，因此异常情况仍然存在。根据此结果可以得出，反复发作的惊阙在一定程度上会对患儿的大脑局部造成不易恢复的损伤，部分患儿也有可能会转化为无热惊阙或者癫痫，应引起家长和医务人员的重视。
综上所述，造成小儿惊阙的原因主要为高热，高热惊阙的持续时间、发作次数以及类型均是影响脑电图异常的重要因素，脑电图是高热惊阙临床诊断、治疗以及评估预后的重要手段，切不可低估其价值，脑电图能准确判断病情、采取有效措施，对小儿的病情有着积极的作用。值得广泛使用。
参考文献：
[1]张芬芳.小儿高热惊厥的临床与脑电图分析[J].当代医学，2010，33：4-5.
[2]蓝如料.小儿高热惊厥的临床观察与治疗分析[J].海南医学，2012，03：53-54.
[3]宣齐敏，徐大勇.小儿高热惊厥的临床表现及治疗效果评价[J].现代养生，2014，22：147.
[4]孔慧斐.小儿高热惊厥43例脑电图分析[J].中华危重症医学杂志（电子版），2010，04：269-270.
[5]刘保华.小儿高热惊厥的临床处理办法分析[J].中国卫生产业，2013，25：66+68.
作者简介：
卢艳辉（1971－），女，汉族，湖南邵阳市人，本科学历，副主任医师，电生理科主任，从事脑电学临床研究。
论文作者:卢艳辉
论文发表刊物:《航空军医》2015年8期供稿
论文发表时间:2015/12/17
标签：高热论文; 患儿论文; 脑电图论文; 小儿论文; 异常论文; 体温论文; 儿科论文; 《航空军医》2015年8期供稿论文;