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    黄正刚[1]2002年在《向量极值问题的最优性条件及线性不等式约束二次规划问题的一种算法》文中进行了进一步梳理本文主要讨论了抽象空间中向量优化问题的一些理论以及求解线性不等式约束二次规划问题的一种算法及其应用。文章在Banach空间中界定了C-切锥的概念,并给出其有关性质,然后引入一种广义约束规格,...
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    王仲[1]1998年在《时序电路测试产生中一些关键技术的研究》文中认为测试费用在芯片成本中所占的比重越来越大。随着当今VLSI电路规模的增大和密度的提高,对电路的测试产生变得十分困难。虽然可测性设计技术的采用使某些电路测试产生变得相对容易,但完全扫描电路设计也造成了芯片面积的增大和芯片性能的下降。更...